Лаборатория электронной микроскопии

Сканирующий электронный микроскоп JSM-5610 LV c системой химического анализа EDX JED-2201 (JEOL, Япония)

Изучение микроструктуры и химического состава различных материалов. Позволяет получать изображение с реальной поверхности.
Увеличение от х18 до х300 000. Анализируемые элементы от В (бор) до U (уран). Диапазон концентраций 0.1-100 %.

Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125 К с цифровой системой вывода изображений (НПО "Электрон", Украина)

Изучение микроструктуры тонкопленочных и объемных материалов; изучение кристаллической структуры.

Увеличение - от х100 до х850 000.

Отправить сообщение


Отправить
Разработка и поддержка
[email protected]

Заполните все поля корректно