Лаборатория рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр Axios (PANalytical, Нидерланды

Является неразрушающим методом определения элементного состава твердых, жидких и порошкообразных образцов.
Диапазон анализируемых элементов – от O (кислород) до U (уран).
Диапазон анализируемых концентраций элементов – от 10 -5 до 100 %.
Рентгеновский дифрактометр D8 Advance Bruker AXS (Германия)

Изучение кристаллической структуры различных химических соединений.
Вертикальный θ-θ гониометр.
Минимальный шаг сканирования – 0,001°.
Новые установки
ИК-Фурье микроскоп Nicolet iN 10 (Thermo Scientific, США)
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр Axios (PANalytical, Нидерланды
Контакты
220050 г.Минск, ул. Свердлова, 13а корпус 3, лаборатория 211
Телефоны: +375 (17) 327-81-32,
+375 (44) 482-83-66
Email: center@belstu.by