Лаборатория рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа

Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр Axios (PANalytical, Нидерланды

Является неразрушающим методом определения элементного состава твердых, жидких и порошкообразных образцов.

Диапазон анализируемых элементов – от O (кислород) до U (уран).

Диапазон анализируемых концентраций элементов – от 10 -5 до 100 %.

Рентгеновский дифрактометр D8 Advance Bruker AXS (Германия)

Изучение кристаллической структуры различных химических соединений.

Вертикальный θ-θ гониометр.

Минимальный шаг сканирования – 0,001°.

Отправить сообщение


Отправить
Разработка и поддержка
[email protected]

Заполните все поля корректно