Лабараторыя рэнтгенаструктурнага і рэнтгенафлуарэсцэнтнага аналізу
Хвалевы рэнтгенафлуарэсцэнтны спектрометр Axios (PANalytical, Нідэрланды)
З'яўляецца неразбуральным метадам вызначэння элементнага складу цвёрдых, вадкіх і парашкаватых узораў.
Дыяпазон аналізаваных элементаў – ад O (кісларод) да U (уран)
Дыяпазон аналізаваных канцэнтрацый элементаў – ад 10 -5 до 100 %.
Рэнтгенаўскі дыфрактометр D8 Advance Bruker AXS (Германія)
Вывучэнне крышталічнай структуры розных хімічных злучэнняў.
Вертыкальны θ-θ ганіёметр.
Мінімальны крок сканавання – 0,001°.
Новыя ўстаноўкі
ІЧ-Фур'е мікраскоп Nicolet iN 10 (Thermo Scientific, ЗША)
Хвалевы рэнтгенафлуарэсцэнтны спектрометр Axios (PANalytical, Нідэрланды)
Кантакты
220050 г.Мінск, вул. Свярдлова, 13а корпус 3, лабараторыя 211
Тэлефон: +375 (17) 397-81-32
Email: center@belstu.by